HTXZ系列調(diào)頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置

調(diào)頻串（并）聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置優(yōu)點(diǎn)

1、所需電源容量大大減小。串聯(lián)諧振電源是利用諧振電抗器和被試品電容諧振產(chǎn)生高電壓和大電流的，在整個(gè)系統(tǒng)中，電源只需要提供系統(tǒng)中有功消耗的部分，因此，試驗(yàn)所需的電源功率只有試驗(yàn)容量的1/Q.

2、設(shè)備的重量和體積大大減少。串聯(lián)諧振電源中，不但省去了笨重的大功率調(diào)壓裝置和普通的大功率工頻試驗(yàn)變壓器，而且，諧振激磁電源只需試驗(yàn)容量的1/Q，使得系統(tǒng)重量和體積大大減少，一般為普通試驗(yàn)裝置的1/3-1/5.

3、改善輸出電壓的波形。諧振電源是諧振式濾波電路，能改善輸出電壓的波形畸變，獲得很好的正弦波形，有效的防止了諧波峰值對(duì)試品的誤擊穿。

4、防止大的短路電流燒傷故障點(diǎn)。在串聯(lián)諧振狀態(tài)，當(dāng)試品的絕緣弱點(diǎn)被擊穿時(shí)，電路立即脫諧，回路電流迅速下降為正常試驗(yàn)電流的1/Q。而并聯(lián)諧振或者試驗(yàn)變壓器方式做耐壓試驗(yàn)時(shí)，擊穿電流立即上升幾十倍，兩者相比，短路電流，擊穿電流相差數(shù)百倍。所以，串聯(lián)諧振能有效的找到絕緣弱點(diǎn)，又不存在大的短路電流燒傷故障點(diǎn)的憂患。

5、不會(huì)出現(xiàn)任何恢復(fù)過(guò)電壓。試品發(fā)生擊穿時(shí)，因失去諧振條件，高電壓也立即消失，電弧即可熄滅，且恢復(fù)電壓的再建立過(guò)程很長(zhǎng)，很容易在再次達(dá)到閃落電壓前斷開(kāi)電源，這種電壓的恢復(fù)過(guò)程是一種能量積累的間歇振蕩過(guò)程，其過(guò)程長(zhǎng)，而且，不會(huì)出現(xiàn)任何恢復(fù)過(guò)電壓。

串聯(lián)諧振耐壓設(shè)備主要針6KV、10kV、35kV、110kV、220KV、以及500kV及以下電力的電纜，GIS和SF6開(kāi)關(guān)，主變壓器、母線，發(fā)電機(jī)，套管，互感器等所有電氣主設(shè)備的交流耐壓試驗(yàn)。電抗器采用多只分開(kāi)設(shè)計(jì)，既可滿足高電壓、小電流的設(shè)備試驗(yàn)條件要求，又能滿足象500kV電纜這樣的高電壓的交流耐壓試驗(yàn)要求，具有較寬的適用范圍，是地、市、縣級(jí)高壓試驗(yàn)部門及電力安裝、修試工程單位理想的耐壓設(shè)備。調(diào)頻串聯(lián)諧振裝置主要由變頻控制電源、激勵(lì)變壓器、電抗器、電容分壓器組成。

調(diào)頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置原理：

在回路頻率f=1/2π√LC時(shí)，回路產(chǎn)生諧振，此時(shí)試品上的電壓是勵(lì)磁變高壓端輸出電壓的Q倍。Q為系統(tǒng)品質(zhì)因素，即電壓諧振倍數(shù)，一般為幾十到一百以上。先通過(guò)調(diào)節(jié)變頻電源的輸出頻率使回路發(fā)生串聯(lián)諧振，再在回路諧振的條件下調(diào)節(jié)變頻電源輸出電壓使試品電壓達(dá)到試驗(yàn)值。由于回路的諧振，變頻電源較小的輸出電壓就可在試品CX上產(chǎn)生較高的試驗(yàn)電壓。

調(diào)頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置參數(shù)：

工作電源;220V/380V,50HZ *試驗(yàn)容量：30-30000KVA

(試驗(yàn)電壓：1000KV及以下 *諧振頻率范圍：20-300Hz

試驗(yàn)電壓波形：正弦波波形畸變率小于等于0.3%

試驗(yàn)電壓冷確度：1級(jí)

頻率調(diào)節(jié)：0.01Hz

保護(hù)響應(yīng)時(shí)間 ：小于1微秒

系統(tǒng)具有過(guò)電壓保護(hù)、過(guò)電流保護(hù)、放電保護(hù)、擊穿跳閘保護(hù)、過(guò)熱保護(hù)。

串聯(lián)諧振耐壓設(shè)備應(yīng)用

1、6kV-500kV高壓交聯(lián)電纜的交流耐壓試驗(yàn)

2、6kV-500kV變壓器 的工頻耐壓試驗(yàn)

3、GIS和SF6開(kāi)關(guān) 的交流耐壓試驗(yàn)

4、發(fā)電機(jī) 的交流耐壓試驗(yàn)

5、其它電力高壓設(shè)備如母線，套管，互感器的交流耐壓試驗(yàn)。

調(diào)頻串（并）聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置優(yōu)點(diǎn)